手持式方阻测试系统(导电薄膜、晶锭测试)


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产品详情

HANDHELD RS TESTING SYSTEM

手持式方阻测试系统（导电薄膜，SiC晶锭测试）

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产品描述

手持式测试系统可根据客户需求灵活选配电阻率探头，模组轻便，易携带。

特点

- 易携带，随放随测

- 手动开关触发，可集成MAPPING图及温度补偿功能

- 长久寿命（>10年）

技术参数

方阻
测片	量程：5~400 Ω/sq（范围可定制）
测锭	量程：0.003~0.6 Ω·cm
	趋肤深度：1.6mm
采样率	60 - 1000SPS （1ms - 16ms/点）
采样数据	上限400个点
传输协议	Modbus Rtu/ Modbus Tcp、用户自定义 SOCKET 协议等
尺寸	探头：Ф20×136mm	控制盒：173×130×55mm

上位机版本demo软件界面支持mapping曲面图，等高线图等：
客户可根据协议自行开发
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嵌入式版本
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